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JESD218A之SSD耐用性测试规范解读

2017-11-6 19:51| 发布者: 热腾网| 查看: 1240| 评论: 0

摘要: 原标题:JESD218A之SSD耐用性测试规范解读 原创内容,转载请注明: 谢谢! 作者 华芯半导体 华哥 给SSD Fans原创投稿,拿=100元稿费。 谈到SSD性能测试,那么就不能不提大名鼎鼎的美国电子器件 ...

原标题:JESD218A之SSD耐用性测试规范解读

原创内容,转载请注明: [http://www.ssdfans.com] 谢谢!

作者 华芯半导体 华哥

给SSD Fans原创投稿,拿>=100元稿费

谈到SSD性能测试,那么就不能不提大名鼎鼎的美国电子器件工程联合委员会(什么?名字太长不知道在港些什么鬼?好吧,简称大家一定特别熟悉,就是JEDEC啊!)的两大标准——JESD218A和JESD219,JESD218A全称SSD Requirement and Endurance Test Method,中译名是固态硬盘需求和耐用性测试方法,顾名思义,协议里规定了消费级和企业级SSD耐用性测试需求和测试方法,JESD219协议全称SSD Endurance Workload,固态硬盘耐用性工作负载,该协议提供了标准化的工作负载,使用JESD219提供的workload测试不同厂商的SSD,得出的结果更加的标准、公正,具有可比性。

闲话少叙,现在就来看看JESD218A协议是如何公开公平公正的进行SSD耐用性测试的吧。首先JESD218A介绍了一些SSD测试的行话:

  1. TBW/TBR:写入/读出SSD总数据量。

  2. Data retention:断电情况下SSD能够保持数据的能力。

  3. Endurance:SSD能够承受的数据重写的能力。

  4. Function failurere quirement (FFR):写入过程中产生累计功能性错误的统计值。

  5. Program/erase cycle (P/E cycle):FLASH block的写入/擦除次数。

  6. Uncorrectable bit error (UBER):读出数据的错误比特率,有公式为证。

  7. Write amplification factor (WAF):写放大系数,不解释,相信读这篇文章的都是行家。

  8. Workload Endurance测试时使用的读写序列,也就是JESD219规定的workload。

  9. SSD capacity:SSD容量的计算延续使用IDEMA规定的HDD容量计算方法,当logical block size是512 Bytes时:

    或者

    当logical block size是4096 Bytes时:

    或者

    两种logical block size计算出来的capacity in Gbytes其实是相同的。

  10. SSD endurance rating这项指标主要评估的是在满足消费级或企业级SSD capacity、UBER、FFR和retention的情况下,SSD最大写入量也就是TBW。

在了解了SSD测试使用的一些概念之后,JESD218A协议就一本正经的开始介绍Endurance和Retention测试方法了。

在JESD218A协议里规定的企业级和消费级SSD对Endurance的要求是不一样的,Table1所示。

从Table1中可以看出来,企业级的SSD在工作时间、工作温度、UBER、retention时间和温度上,比消费级SSD的要求更加严格,保证了企业级SSD比消费级SSD更加的可靠和耐用。

那么问题来了,如何对SSD的Endurance进行测试呢?JESD218A协议给出了两种测试方法——direct method和extrapolation method。

Direct method顾名思义就是让SSD在高温和低温的环境下不断的读写来测试SSD的Endurance,方式简单粗暴而有效。对于分分钟出货几千几万块SSD的大厂来说,对每块SSD都进行测试是不经济的行为,JESD218A也体贴的给出了样本采样的方法,如果该SSD产品是第一次进行测试,那么样本SSD至少从三个不连续生产批次的SSD产品中抽样,如果不是,那么从同一批次的产品中抽样即可。采样的数量有公式为证:

公式里的function failure指的是可以接受的出现功能故障的SSD的数量,data errors指的是可以接受的数据出错数量,TBW/TBR是指总的写入/读出数据量,UCL函数的取值如Table2所示,这里有一个accept-on-zero plan的概念,此时AL等于0,对应的UCL的取值是0.92,SS就是用于Endurance测试的样品数量。

简单的举个例子,假设FFR=3%,UBER=10e-16,TBW=100,第一步采用accept-on-zeroplan,根据公式2,计算出SS≥0.92/0.03=30.1,根据公式3计算出SS≥0.92/(100*1*8*10e12*10e-16)=11.5,两值之间取最大值,那么采样的SSD数量为31块,根据公式3得到UCL(data_errors) ≤100*1*8*10e12*10e-16*31=2.48,返回查找UCL表,发现2.48介于AL=0与AL=1之间,所以在31块SSD样本数量下,能够满足functionfailure=0,最大data error=1的测试要求。

采样样本有了,Workload(JESD219)有了,就剩下确定高低温控制方案了。JESD218A给出了两种方案,一种是ramped-temperature approach,就是将所有测试SSD放到一起进行高低温切换测试,另一种方案叫split flow approach,把测试的SSD分成两组,一组进行低温测试,另一组进行高温测试。Table3给出了Client和Enterprise SSD Endurance时间和温度的要求。

另外JESD218A还指出增加测试温度能够加速Endurance和retention的测试时间,也就是说测试温度越高,就能用越短的时间模拟出长时间读写SSD的效果。Table4给出了温度与测试时间之间的对应关系。

比如说Table4的第一行,采用Ramped方式测试ClientSSD,在86度的温度下使用标准Workload进行50小时的测试,就能模拟出Client SSD工作一年的效果。是不是效率特别的高?!

既然高温能够加速SSD测试,那我们就可劲儿的加高温呗,时间不断的缩短测试效率奇高——想的美!再返回来仔细看一下Table3,Endurance Stress Temperature列指出了在进行Endurance测试时的温度区间,下限木有问题,表中明确的指出了T≤25摄氏度,上限的Tmax是个什么鬼?!那么如何确定这个Tmax呢(不得不感慨人生处处都是坑儿啊)?各位看官且往后看,翻到JESD218A附录B,这里协议又贴心的给出了一个公式。

还有一个例子。

各种带公式,算算算,最后得出结论Tmax=58摄氏度!Bravo~掌声鲜花!样本数量、Workload、温度范围各种材料已上齐,终于可以开始烹制Endurance测试大餐咯,下面来看一下菜谱里的烹饪方法吧,先放油还是先放菜呢。Figure1给出了ramped-temperature approach和split flow approach两种方案下测试的流程图。

以ramped-temperatureapproach的流程为例:

首先sample取样SSD ->Endurance测试 -> component-level常温retention测试(可选) –> 写数据 -> drive-level常温retention测试(可选) -> 高温retention测试 -> 数据验证 -> 判断是否通过测试(检查FFR和data retention是否满足测试要求)。

协议里要求进行完Endurance测试后要立即进行retention测试,SSD写入数据、断电、高温,最后读出数据进行比对是否满足UBER要求。

文章到此就完成了整个SSD Endurance和retention测试,但是,JEDEC的协议制定者们还意犹未尽,最后还留了彩蛋——Verification by extrapolation,给测试者提供了几种提高测试效率、缩短测试时间的小技巧,例如修改Workload来加速写入测试数据速度,用减少容量的SSD来评估FFR和UBER等等,感兴趣的朋友就请自己翻阅JESD218A 7.2部分咯。

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